1、概述

隨著軍事高新技術的飛速發(fā)展，世界各國大力發(fā)展隱身技術。其中包含的材料隱身就是指在軍事目標上大量使用吸波材料來衰減入射雷達波，減小雷達散射截面。

由于不同的吸波材料對入射波的反射在不同頻段、不同極化方式、不同入射角的情況下是不同的，為了衡量吸波材料的吸波特性，適應高損耗微波電磁材料的研究、開發(fā)和應用需求，采用弓形法，在 1～40 GHz 的頻帶范圍內，對材料進行常溫反射率的測試。

2、設備原理

弓形法使用豎直或者半圓的弓形架，弓形架上裝配有一對天線，天線可在弓形架上滑動到任意位置。固定在支架上的金屬板首先被用于校準，然后將金屬板換成待測吸波材料樣板測試，將兩次測試的功率輸出值進行比較，即可得出待測吸波材料的反射率。

假設收發(fā)天線間的耦合可以忽略不計，設從發(fā)射天線經過參考金屬板再到達接收天線的電磁波的功率為P金，將參考金屬板換為 RAM 樣板后到達接收天線的功率為 P材，那么吸波材料的功率反射率為ΓP ：ΓP = P材 / P金

同理若用電壓來表示反射率為:ΓP = V材 / V金

用分貝的形式表示為:Γ(dB) = 10 lg (P材 / P金)=10 lg ΓP =20 lg (V材 / V金)  = 20 lg ΓV

Γ表示吸波材料的反射率，其單位為分貝(dB)。

3、設備結構

反射率測試系統(tǒng)由網絡分析儀、測試平臺、弓形架、發(fā)射和接收天線、微波電纜組件、控制計算機等組建成如圖 1 所示的反射率測試系統(tǒng)。具體而言，系統(tǒng)主要構成包括：矢量網絡分析儀、弓形架、天線(發(fā)射和接收)及支架、測試電纜組件、標準板、樣品支架、控制臺、尖錐吸波材料、測試軟件等；構成系統(tǒng)的其它部件。

圖1 1-40GHz反射率測試系統(tǒng)結構框圖

圖2 典型的1~40GHz弓形法反射率常溫測試系統(tǒng)(成都恩馳微波科技有限公司提供)