雙脈沖測試

雙脈沖測試中一個重要目標是，準確測量能量損耗。在示波器中進行準確的功率、能量測試，關鍵的一步是在電壓探頭和電流探頭之間進行校準，消除時序偏差。

泰克今年推出的雙脈沖測試軟件（WBG-DPT）在4系、5系和6系示波器上均可使用，該軟件包括一種新的專為雙脈沖測試設計的消除時序偏差（deskew）的校準技術。這種新的方法與傳統方法大有不同，測試速度顯著加快，縮短了測試時間。

該技術適用于使用場效應晶體管或IGBT的功率轉換器。在本篇文章中，我們將使用FET術語，來使得描述簡單明了。

為什么要消除時序偏差（deskew）？

在設計任意一種功率變換器時，都必須盡量減少開關過程中的能量損耗。這種能量損耗可以使用示波器進行測量。一般方法是將同一時刻的電壓和電流采樣相乘，生成功率波形。

p(t) = v(t)*i(t)

由于功率波形表示隨時間變化的能量消耗，因此可以通過對功率波形進行積分來確定能量：

E = ∫p(t)dt

要準確測量能量損耗，電流和電壓波形的轉換應在時間上保持一致。因此，為了準確進行能量損耗測量，設計者必須矯正測試夾具和探頭造成的延遲。

一般來講，在測試裝置上開始任何測量之前都要計算探頭之間的偏差。對于低電壓應用，可以使用函數發生器和時序偏差校準夾具（deskew夾具）（Tektronix P/N 067-1686-03）進行校準。但是，這種方法對于高電壓和大電流應用而言，并非最佳選擇。

為了匹配更高功率下低壓漏-源極電壓（VDS）和漏極電流（ID）的測量，傳統技術需要重新布線測試裝置。這要求移除負載電感，并用電阻取而代之。接下來進行測量，需要匹配VDS和ID測量值。這個過程可能需要一個小時或更長時間。

圖1. 傳統的deskew方法是移除負載電感，用電阻替代

一種新的時序偏差校準（deskew）方法

泰克WBG-DPT解決方案是業內首創的基于軟件的時序偏差校準（deskew）技術，無需重新布線，只需在進行雙脈沖測量后即可執行。在新方法中，采集漏極電流（ID）用作參考波形。在導通期間，利用測試電路的參數模型計算出低壓側VDS對齊波形，其計算后的波形參考ID波形，相對于ID沒有時序偏移。消除時序偏差的算法確定計算出的VDS波形與測量出的VDS波形之間的時序偏差。然后將deskew校準的數據修正到VDS測量通道。

圖2. 在新方法中，時序偏差校準是在測試后進行的，參數在deskew菜單中設定

時序偏差校準過程

如上所述，時序偏差校準可在測量后進行。在開始雙脈沖測試時，無需擔心VDS和ID之間的偏差，隨后選擇deskew設置并提供以下參數：

?  探頭阻抗 - 在本文中假定為電流檢測電阻(CVR)或分流電阻

?  有效"回路"電感

?  偏置電壓（低壓側FET關斷時兩端的平均VDS）

?  差分階數（模型用于平滑的濾波器階數）

圖3. 用于建立VDS_low對齊波形的等效電路

該電路假定使用一個電流觀察電阻來測量ID

在deskew菜單中輸入的參數用于構建VDS對應波形。波形使用基爾霍夫電壓定律建立：

其中VDD - VDS_high表示電源軌電壓和高壓端場效應晶體管FET上的壓降。需要注意，在開啟期間，由于VDD是固定的，而VDS_high是高壓端場效應晶體管FET本體二極管上的電壓，所以這個量是恒定的。

■ Rshunt是分流電阻

■ ID是根據Rshunt上的壓降測得的漏極電流

■ dID/dt 是測得的漏極電流變化率

■ Leff是整個電源回路的有效電感

如上所述，在開啟期間，VDD-VDS_high實際上是恒定的。Rshunt和Leff也是恒定的。這意味著模擬的VDS_low走線波形是ID的函數。

配置完參數后，用戶按下WBG的deskew按鈕。系統將根據指定的參數和漏極電流生成VDS的數學模型。該波形將顯示在屏幕上。

圖4. 根據ID計算出的VDS對齊波形與測量的VDS波形進行比較。偏移是對齊波形和測量波形之間的時間差。計算出偏斜后，就可以從ID波形中去除偏斜

如上圖所示，有效電感Leff考慮到了整個環路的“疊加”。因此，Leff通常是未知的，而這個參數需要反復調整。簡單地將糾偏過程反復運行，并對Leff進行調整，直到計算出的對齊波形和測量出的VDS波形具有相同的形狀。如果計算出的VDS對齊波形與測量的VDS波形在形狀上存在差異，可以調整參數并再次運行校準時間偏差。

一旦參數設置準確，對齊波形和測量波形將具有相同的形狀，系統就能確定并糾正偏斜。偏斜值顯示在Deskew設置中，并自動應用于連接VDS信號的通道。

這一新流程可以準確地計算偏斜值，并將時序偏差校準時間從一小時或更長時間縮短到5至10分鐘。