鹽霧試驗
鹽霧測試分為二大類，一類為天然環(huán)境暴露試驗，另一類為人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗。與天然環(huán)境相比，人工鹽霧環(huán)境中的氯化物濃度，可以是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍，腐蝕速度大大提高，對產(chǎn)品進行鹽霧試驗，得出結果的時間也大大縮短。
如在天然暴露環(huán)境下對某產(chǎn)品樣品進行試驗，待其腐蝕可能要1年，而在人工模擬鹽霧環(huán)境條件下試驗，只要24小時，即可得到相似的結果。
人工模擬鹽霧試驗包括中性鹽霧試驗、醋酸鹽霧試驗、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗、交變鹽霧試驗。
1、中性鹽霧試驗（NSS試驗）
目前應用領域最廣的一種加速腐蝕試驗方法。一般情況下，它采用5%的氯化鈉鹽水溶液，溶液PH值調(diào)在中性范圍（6.5～7.2）作為噴霧用的溶液。試驗溫度均取35，要求鹽霧的沉降率在1～3ml/80cm2.h之間，沉降量一般都是1～2ml/80cm2.h之間。
2、鹽霧試驗（AASS試驗）
是在中性鹽霧試驗的基礎上發(fā)展起來的。它是在5%氯化鈉溶液中加入一些冰醋酸，使溶液的PH值降為3左右，溶液變成酸性，最后形成的鹽霧也由中性鹽霧變成酸性。它的腐蝕速度要比NSS試驗快3倍左右。
3、銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS試驗）
它是國外新近發(fā)展起來的一種快速鹽霧腐蝕試驗，試驗溫度為50，鹽溶液中加入少量銅鹽—氯化銅，強烈誘發(fā)腐蝕。它的腐蝕速度大約是NSS試驗的8倍。
4、交變鹽霧試驗（CCT)
實際上是中性鹽霧試驗加恒定濕熱試驗。它主要用于空腔型的整機產(chǎn)品，通過潮態(tài)環(huán)境的滲透，使鹽霧腐蝕不但在產(chǎn)品表面產(chǎn)生，也在產(chǎn)品內(nèi)部產(chǎn)生。它是將產(chǎn)品在鹽霧和濕熱兩種環(huán)境條件下交替轉換，最后考核整機產(chǎn)品的電性能和機械性能有無變化。
恒溫恒濕試驗
高低溫試驗箱也是恒溫恒濕測試，是對產(chǎn)品進行的一種環(huán)境可靠性測試。即模擬產(chǎn)品存儲、工作的溫濕度環(huán)境，檢驗產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時間后所受到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。
高溫高濕測試是用帶加熱、制冷、加濕、除濕功能的設備溫濕度箱，測試前檢查產(chǎn)品的相關功能、性能等是否正常并拍照，然后將產(chǎn)品放置于溫濕度箱中，開機并設置溫濕度箱的溫度、濕度及測試時長。比如70°C，95%濕度，測試168小時。設置好后讓溫濕度箱工作，測試開始。
到達設置的結束時間后，將產(chǎn)品取出，再次檢查產(chǎn)品的相關功能、性能等跟測試前是否有什么變化，以此判斷產(chǎn)品是否滿足具測試要求。有時候測試過程中也需要將產(chǎn)品拿出檢查，以了解產(chǎn)品在不同測試時間下的狀態(tài)。如果還沒到預設的測試完成時間產(chǎn)品所受的影響已經(jīng)超出可接受的范圍，就可以提前終止測試，尋找方案解決問題，待產(chǎn)品改進后再重新測試。
高溫高濕測試對具體的測試溫度、濕度及測試時長沒有固定的標準，需要委托方根據(jù)自身情況或客戶要求自己確定測試條件。定測試條件時可參考產(chǎn)品實際的存儲環(huán)境、運輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是40-80°C，濕度是65%-95%，時長有從十幾個小時到幾百個小時不等。
高溫高濕測試也沒有固定的判定標準，需要委托方根據(jù)自身情況或客戶要求自己確定。一般都是針對測試后產(chǎn)品外觀、功能、性能受影響的程度。
IP 防 護 等 級
IP防護等級系統(tǒng)是由IEC所起草，將電器依其防塵防濕氣之特性加以分級。IP防護等級是由兩個數(shù)字所組成，第1個數(shù)字表示電器防塵、防止外物侵入的等級(這里所指的外物含工具，人的手指等均不可接觸到電器之內(nèi)帶電部分，以免觸電)，第2個數(shù)字表示電器防濕氣、防水浸入的密閉程度，數(shù)字越大表示其防護等級越高。
IP后第一位數(shù)字：防塵等級
IP后第二位數(shù)字:防水等級
振動試驗
模擬產(chǎn)品在運輸、安裝及使用環(huán)境下所遭遇到的各種振動環(huán)境影響，用來確定產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動的能力
1、正弦定頻試驗
在選定的頻率上（可以是共振頻率，特定頻率，或危險頻率）按規(guī)定的量值進行正弦振動試驗，并達到規(guī)定要求的時間。
2、正弦掃頻試驗
在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，按規(guī)定的量值以一定的掃描速率由低頻到高頻，再由高頻到低頻作為一次掃頻，直到達到規(guī)定的總次數(shù)為止。
掃頻試驗分線性掃頻試驗和指數(shù)掃頻試驗:線性掃頻速度由掃頻速率（Hz/s）或單次掃頻時間決定;指數(shù)掃頻速度的掃頻速率一般為每分鐘一個倍頻乘
3、窄帶隨機掃描試驗
在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，用某一中心頻率上某一帶寬的窄帶隨機信號作由低頻到高頻，再由高頻到低頻的掃描，并達到規(guī)定要求的時間。
