近年來，集成電路技術得到了快速發展，特征尺寸不斷縮小，集成度和性能不斷提高。為了減小成本，提升性能，集成電路技術中引入大量新材料、新工藝和新的器件結構。這些發展給集成電路可靠性的保證和提高帶來了巨大的挑戰。

可靠性定義中“規定的時間”即常說的“壽命”。根據國際通用標準，常用電子產品的壽命必須大于10年。顯然，我們不可能將一個產品放在正常條件下運集成電路可靠性介紹行10年再來判斷這個產品是否有可靠性問題。因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然后根據樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命。

可靠性是對產品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。

冷熱沖擊試驗用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經高溫、低溫的連續環境下所能忍受的程度，適用電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料等各種材料在溫度急劇變化環境下的適應性。在研制階段可用于發現產品設計和工藝缺陷，在有些情況下也可用于環境應力篩選，剔除產品的早期故障。試驗的嚴苛程度取決于高低溫范圍，駐留時間，溫度轉換時間，循環數。

高低溫沖擊試驗（Thermal Shock Test ）

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