測試目的

驗證待測電源在輸出負載動態變化時，輸出電壓及信號是否符合規格要求：

- 電壓波動范圍，

- 瞬態響應能力。

測試條件及示意圖

- 輸入：規格中定義的最小及最大輸入交/直流電壓，最小及最大交流頻率

- 輸出：規格中定義的動態負載電流條件及規格所允許的最小電容負載

- 溫度：最低工作溫度，常溫及最高工作溫度

- 示波器采樣方式：一般設為Sample或Hi-res模式

負載設置（如圖示）

測量波形數據

如下圖中的各項數據：

- 電壓值：Vo-max, Vovershoot, Vo-stable1, Vo-stable2, Vo-undershoot, Vo-min,

- 響應時間：tR1，tR2

- 參考值：t1, t2,Iomax,Io-min；或負載占空比，頻率,Iomax,Io-min；

測試步驟

1）設定最低環境工作溫度，最小輸入電壓/頻率；對需做動態響應測試的輸出，依規格要求設定其負載電流的起、止點，負載電流的上升、下降速率(Slew Rate)及負載電流的變化周期；其他輸出負載按照Regulation Table要求設定；

2）開機后按規格要求，調整負載電流的變化周期(t1,t2)，觀察輸出波形的變化；

3）記錄使Vo-max、Vovershoot、Vundershoot及Vo-stable1最大，Vo-min及Vo-stable2最小的測試條件, 測量輸出電壓的各對應值及輸出響應時間，并保存波形；

4）在步驟3的動態電流的變化周期下，改變其他輸出負載條件，使Vo-max、Vovershoot、Vundershoot及Vo-stable1最大，Vo-min及Vo-stable2最小，測量并記錄相應數據；

5）以步驟3及4找到的最差負載條件為負載，以待測電源所提供的各種開機方式開機(如AC on, PS_ON on)；

6）依次改變測試條件(動態負載起始點，輸入電壓/頻率及環境溫度)，重復步驟2、3、4、5；

7）同樣方法測試其他輸出動態響應。

判定條件

各輸出測量值符合規格要求：

- 不能有震鈴(Ringing, 反饋回路欠阻尼)現象,

- 待測電源不可以損壞(Damaged/Broken down),

- 待測電源不可以工作不穩定，甚至關機(Shut down),

- 響應時間符合要求。

* 判定圖例 1

如下圖中的各輸出測量值符合規格要求；雖有過阻尼，但可接受；

* 判定圖例 2

雖然如下圖中的各輸出測量值符合規格要求，但反饋回路欠阻尼(不穩定)，故不能接受。

改善動態響應的對策參考：

- 適當改善反饋響應速率(如適當減小431上RC電路中的電容量、增加光耦電流、減小電流檢測PIN腳上RC電路中的電容值)，但需注意噪聲、重載開機問題；另外，這一方案也受制于實際設計方案的選擇：

* PWM方式受最大占空比的限制(Flyback：約0.8，單端正激0.5，其他如Push-pull、Half-bridge，Full-bridge等為0.8，Boost為0.9等)，因此設計初期最大占空比的選擇就應當保留一定的余量；

* PFM方式也受制于工作頻率限制，以免產生噪聲或EMI的問題；

在容許的情況下(較低的電容電壓)，盡可能讓占空比或開關頻率在動態情形下逐步增大，以避免如電流應力加大等問題；

- 增加輸出電容容量或并聯數量，適當降低輸出儲能電感的感量

* 電感中的電流不能突變，這是影響輸出動態響應的關鍵，尤其在CCM模式的時候，因此，適當降低感量可以改善動態響應，但需要考慮輕載時的反饋穩定性問題(CCM轉變成DCM會造成系統不穩定)

* 電容的電流可以突變，因此，可以考慮適當考慮增加電容容量或數量來改善，如果Layout空間允許的話。

- 采用多個變換器并聯方案，但成本會較高，這在電流變化速率要求較高的場合(如CPU供電的3~6相V-core電路)；

- 增加開關頻率，以更快的速度傳遞能量，但需考慮元器件的頻率特性、EMC及效率等問題；

以上的方案在實際應用中，需綜合考慮。