紅外熱像儀在研發(fā)中的應(yīng)用早已普遍用，它來監(jiān)測實驗過程，可以看清更多細(xì)節(jié)，保障實驗成功，比如FLIR X-HS科學(xué)紅外熱像儀符合國防、學(xué)術(shù)和商業(yè)研究與測試應(yīng)用的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，可滿足對高速或高分辨率紅外數(shù)據(jù)采集功能的需求，適用于全世界大多數(shù)關(guān)鍵測試場景是科學(xué)家/工程師/研究人員和質(zhì)量保證經(jīng)理等，比較傾向選擇的型號，那么它有哪些“過人之處”呢？

不丟幀、無數(shù)據(jù)損失，滿足嚴(yán)苛要求

無論是電子電路產(chǎn)品研發(fā)，還是高校實驗研究過程監(jiān)控，數(shù)據(jù)都需要嚴(yán)謹(jǐn)、準(zhǔn)確、全面、記錄完整。選擇FLIR X-HS系列熱像儀可同時適用于中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)光譜，其連接和機載記錄功能較以往型號表現(xiàn)更出色。使用它，用戶可體驗全新的10GigE和CoaXPress（CXP）2.1高速接口，它可提供一小時以上的快速圖像流式傳輸和數(shù)據(jù)傳輸功能，能在提升效率的同時確保高數(shù)據(jù)保真度。

完美捕捉記錄開槍瞬間的所有熱細(xì)節(jié)

此外，其機載記錄選配件包括可拆卸的非易失性存儲器快速通道(NVMe)固態(tài)硬盤(SSD)，保證能夠無損記錄關(guān)鍵紅外事件。4TB高速SSD現(xiàn)已成為所有X系列HS熱像儀的標(biāo)配，利用SSD擴展錄制，用戶可無丟幀地將超過1.5小時的詳細(xì)紅外數(shù)據(jù)記錄在熱像儀上。

及時共享數(shù)據(jù)，加強團隊合作

科學(xué)研發(fā)過程，需要團隊中各個成員精誠合作，及時共享研究數(shù)據(jù)，促成實驗成功。FLIR X-HS系列熱像儀讓用戶能夠輕松將完整錄像從SSD傳輸至計算機，確保紅外數(shù)據(jù)隨時可供分析。借助它可打造精確的計時系統(tǒng)，實驗室或現(xiàn)場操作人員可使用無損機載記錄、高速傳輸、數(shù)據(jù)傳輸及觸發(fā)和同步功能，確保事件記錄精確、低延時。

X-HS系列熱像儀還搭載了四位電動濾鏡輪，支持FLIR電動調(diào)焦鏡頭（可實現(xiàn)更精確的對焦和遠(yuǎn)程對焦），可提供更高質(zhì)量的記錄，節(jié)省操作時間，使用戶更從容應(yīng)對動態(tài)數(shù)據(jù)采集環(huán)境。

整理海量數(shù)據(jù)，降低成本

實驗過程中需要對大量檢測結(jié)果進(jìn)行整理，這對于研發(fā)人員來說也是不小的工作量，通過搭配FLIR Research Studio專業(yè)軟件，借助簡化、直觀的圖形用戶界面(GUI))和獨特的功能集，科學(xué)家、工程師、研究人員和質(zhì)量保證經(jīng)理們可利用FLIR X-HS系列熱像儀混合數(shù)據(jù)集并同步多個傳感器，例如與其他FLIR A系列、X系列和T系列熱像儀同步，創(chuàng)建綜合全面的分析報告，為決策提供有效支持。

此外，根據(jù)特定應(yīng)用(如電子電路板級設(shè)計和測試、國防研究及其他商業(yè)和學(xué)術(shù)用例)的具體需求，用戶可通過在FLIR平臺上實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化，降低成本并提升互換性。

FLIR X-HS系列科學(xué)紅外熱像儀可主要應(yīng)用在彈道學(xué)、無損檢測、作應(yīng)力圖PCB和電子部件測試、輻射測量等是科學(xué)家/工程師/研究人員和質(zhì)量保證經(jīng)理們比較青睞的一款科學(xué)級制冷熱像儀。