查看X射線熒光（XRF）分析儀器相關(guān)的內(nèi)容時(shí)，您可能會(huì)留意到文章里面經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)很多的英文略縮術(shù)語(yǔ)。您可以利用這份快速指南，來(lái)了解這些您經(jīng)常會(huì)在網(wǎng)站上看到或者在工作中聽到的略縮術(shù)語(yǔ)。

XRF

XRF = X射線熒光。一種快速的無(wú)損檢測(cè)方法。用來(lái)測(cè)量材料的化學(xué)元素組成。類似的略縮術(shù)語(yǔ)有:

●EDXRF = 能量色散型X射線熒光光譜法。快速、經(jīng)濟(jì)的X射線熒光技術(shù)，普遍被運(yùn)用在手持式的X射線熒光分析儀中。

●WDXRF = 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜法。實(shí)驗(yàn)室用的X射線熒光技術(shù)，相比較于利用能量色散型X射線熒光光譜法的分析儀，其價(jià)格更加昂貴。

●HHXRF = 手持式X射線熒光分析儀

●pXRF = 便攜式X射線熒光分析儀

探測(cè)器

手持式X射線熒光分析儀一般使用兩種類型的探測(cè)器：

●PIN = 硅PIN二極管探測(cè)器。相較SDD探測(cè)器，是一種較為早期、便宜、探測(cè)效率慢的一種探測(cè)器。

●SDD =硅漂移探測(cè)器。一種新型探測(cè)器，相較PIN探測(cè)器，計(jì)數(shù)率為其的10倍。

元素

LE =輕元素。輕元素被激發(fā)時(shí)發(fā)射的X射線能量很低，所以難以被我們的探測(cè)器接收到。

在判定LE的含義時(shí)需要結(jié)合上下文的內(nèi)容。因?yàn)槲覀円步?jīng)常將手持式XRF分析儀能夠測(cè)量到的一些輕元素也稱作為L(zhǎng)E，包括：

鎂 （Mg）、鋁 （Al）、硅 （Si）、磷 （P）、硫 （S）、氯 （Cl）、鉀 （K）、鈣 （Ca）

上述輕元素只有利用SDD探測(cè)器才能檢測(cè)。

在很多情況下， LE 也代表在化學(xué)元素周期表中原子序數(shù)低的元素， 這些元素我們無(wú)法利用手持式XRF分析儀進(jìn)行檢測(cè)，比如鈉（Na）， 碳 （C）， 氫 （H），以及氧 （O）。

氫（H）到鈉（Na）: 這些LE （藍(lán)色區(qū)域內(nèi)的） 我們無(wú)法使用手持式XRF分析儀探測(cè)到。鎂 （Mg） 到鈧 （Sc）: 這些元素 （黃色區(qū)域內(nèi)） 無(wú)法用PIN探測(cè)器檢測(cè)—需要使用搭載了SDD探測(cè)器的手持式XRF分析儀。

算法

FP =基本參數(shù)法。一種常用于X射線熒光技術(shù)的計(jì)算/校準(zhǔn)的算法。它根據(jù)原子的基本物理特性，將不同的元素之間的干擾效應(yīng)也納入了算法中。當(dāng)分析一個(gè)具有高密度的樣本時(shí)（比如大多數(shù)的金屬材料），這會(huì)是一個(gè)非常有效的方法。

CN =康普頓算法。一種相對(duì)簡(jiǎn)單的計(jì)算/校準(zhǔn)的算法，適用于低密度樣本的分析。

可靠性鑒定

PMI = 材料可靠性鑒定。用戶在需要判定一些設(shè)備中的重要組成部件是否由某種特定的合金組成的時(shí)候需要對(duì)這些設(shè)備進(jìn)行PMI判定， 比如：水管、閥門、焊接處、以及壓力容器。對(duì)一些特定的化學(xué)元素的含量進(jìn)行檢測(cè)和匹配，快速的驗(yàn)證金屬牌號(hào)。

分析檢測(cè)

LOD = 檢出限。LOD表示最低可以探測(cè)到的某種元素的含量。在含量非常低的時(shí)候，設(shè)備會(huì)無(wú)法判定該元素的存在、或者給出其含量的數(shù)值。

LOQ = 定量限。LOQ大約是LOD的3倍，元素含量在這個(gè)限值以上時(shí)，給出的檢測(cè)結(jié)果的置信度很高。