在TD-LTE或者TD-SCDMA等各種時分信號進行占用帶寬、頻譜發(fā)射模板、鄰道泄露抑制比等頻譜測試項目時，需要對數(shù)據(jù)有效時隙的信號，即特定子幀進行頻譜分析，TD-LTE幀結(jié)構(gòu)見圖1，這就要求頻譜分析儀在用戶選定的時間窗口內(nèi)掃描，時間窗口外停止掃描，這時需要用到分析儀的時間門“Gate”的功能。下面簡單介紹一下如何正確使用頻譜儀的Gate功能。

圖1 TD-LTE信號典型幀結(jié)構(gòu)

便于理解，以一種典型時隙信號TD-SCDMA信號為例，中心頻率1800MHz，幅度0dBm，其一個無線幀的寬度（重復周期）為5ms，時隙信號(脈沖寬度)在662.5 us寬度內(nèi)，用Ceyear思儀5264B信號分析儀測量的具體操作如下。

1、首先要設(shè)置5264B信號分析儀中心頻率1800MHz，掃頻范圍10MHz， 需要設(shè)置成1MHz。由于Free run沒有觸發(fā)，所以頻譜在不斷的跳動。

圖2 Free run模式下TD-SCDMA信號的頻譜

2、第二步要去設(shè)置Gate View，也就是選取所要分析的脈內(nèi)信號。

a)按[掃描]→Gate ，進入GATE功能。

b)Gate View選擇on，這時5264B信號分析儀進入零掃寬（zero span）模式。為了獲得時域的脈沖包絡(luò)，要把RBW設(shè)置大于0.5倍的脈沖上升時間的倒數(shù)，也就是RBW盡可能要大。同時頻譜儀的掃描時間也要大于一個完整重復周期，最好設(shè)置3倍的重復周期。

c)按BW→RBW: 1MHz，這時可能還沒有信號或得到的信號是不斷抖動，需要設(shè)置Gate觸發(fā)源。

d)按[掃描]→Gate→More→Gate source→RF Burst 。

3、設(shè)置Gate View Setup，該步驟要設(shè)置好參考位置和選取Gate時間段，設(shè)置窗口延時和窗口寬度來選擇被測時間窗。設(shè)置Gate View Sweep Time 10ms約為重復周期的2倍。 再進入到Gate設(shè)置界面。

a)Sweep/control→Gate→Gate View Setup，Gate View Sweep Time：10ms， Gate View Start Time：80us。

b)設(shè)置Gate Delay :3ms，Gate Length：662.5us。

圖3 GATE功能的使用步驟

圖4窗口延時及窗口寬度設(shè)置

4、關(guān)掉Gate View，打開Gate，即可看到門選后的頻譜。要注意在Gate和Gate View下面的RBW要設(shè)置成同樣的帶寬1MHz，此時還可以測試帶內(nèi)信號的信道功率及臨道泄露功率比等常規(guī)頻譜測試。

圖5 TD-SCDMA信號的完整頻譜