簡介
本文提供了使用基于PXI的Marvin數字子系統替換Trendar / Fluke 3050B數字子系統的方法。該方法僅針對Fluke 3050B的數字測試功能的一部分，參考文檔基于1983年2月的3050B數字/模擬測試系統手冊（Rev. 1,2 / 8）獲得的信息。
背景
Fluke 3050B測試系統為PCBA提供自動數字和模擬的功能測試。通過連接器適配器與UUT連接，該連接器適配器連接到（4）156針ZIF連接器。圖1為系統圖片。
圖1：Fluke 3050B系統
3050B具有兩種pass/fail測試模式 - 比較模式和簽名模式。比較模式通過比較已確定為良好的UUT和被測UUT之間的數字刺激響應來實現；將I/O引腳狀態，電路板的IC夾具和邏輯探針逐步進行比較。簽名模式僅使用單個板，并且通過將UUT的I/O引腳生成的CRC（循環冗余校驗）簽名與先前測試的已知良好板的簽名進行比較，實現pass/fail決策。
3050B還包括使用稱為ADS環境進行故障診斷，該環境是一種引導探測算法，可以根據UUT原理圖，拓撲和組件進行故障診斷。ADS執行診斷所需的輸入包括：
IC類型和位置文件
IC類型定義文件
優先級節點文件（可選）
從 - 到互連文件
板邊優先文件（可選）
標簽文件（用于文檔）
3050B提供了兩個探測器，用于監視/比較UUT上的節點。探頭邏輯閾值可選擇1 V，2 V，5 V，7 V或可變（-10至+10 V）。IC夾（16針）的使用具有類似的特性，可變范圍為0至+10V
3050B數字子系統的主要功能總結如下：
最多240個I / O引腳，以32引腳為增量; 基本配置是64針
低電平驅動器輸出小于或等于0.7 V @ 10 mA
高電平驅動器輸出可通過連接器適配器中的跳線,進行編程選擇（輸出范圍見圖2）
驅動器測試速率：1 MHz，（某些模式下為2 MHz）
接收器閾值范圍：基于驅動器電壓電平的1.8 V至3.5 V（見圖3）
存儲序列：最多2048 bits
測試長度：可編程為20K，40K，100K，200K，400K，1M，2M，4M，10M，20M，40M
測試儀時鐘頻率：可編程為1 Hz至9.99 MHz的3位數字
圖2：輸出驅動器范圍
圖3：接收器閾值范圍
序列執行包括以下功能：
將四個引腳組中的任何一個從當前模式切換到自動序列,存儲序列或高阻抗
根據編程的自動序列算法，在自動序列模式下更改引腳組中的驅動器狀態
根據編程的存儲順序，在存儲序列模式下更改引腳組中驅動程序的狀態
啟用或禁用所有接收器
執行下表中定義的存儲序列的操作碼
圖4：存儲序列的操作碼
3050B數字子系統更換
替換3050B的數字子系統為Marvin的6U PXI GX5055數字I / O卡，該板卡可以提供32個數字I / O通道和更寬驅動/檢測電壓范圍（-14 V至+25 V）。為了容納240個引腳，該子系統將包含（8）GX5055數字I / O卡，安裝在GX7005高功率PXI機箱中。該數字子系統可以工作在50 MHz，具有可編程壓擺率，有助于匹配3050B的驅動器性能特性。此外，子系統還具有每引腳和每個測試步進方向控制以及可編程的每個引腳驅動/檢測電平。所有這些功能都提供了靈活性，便于將3050B測試程序適配/遷移到所提出的數字子系統。如上文所述，3050B支持多種測試模式，包括比較和簽名模式的pass/fail測試。 下面詳細介紹了基于GX5055數字子系統的功能和差異：
簽名模式，僅pass/fail。簽名模式的使用需要計算來自UUT的獲取數據的CRC，然后與已知的良好設備的CRC進行比較。GX5055不支持CRC計算，因此需要在系統控制器（PC）采集后完成，不過這就要求CRC計算方法已知。
如果可以從已知的良好UUT獲得刺激/響應矢量，則可以支持比較模式。已知的良好測試向量將應用于UUT，響應將由GX5055的內存捕獲。在采集后，將來自UUT的采集的矢量與已知的良好矢量進行比較。GX5055的功能庫包括支持此比較功能的函數。請注意，盡管3050B僅支持2K向量，但序列長度可能高達40M。GX5055支持最長512K的序列長度，因此對于長序列（> 512K），測試和比較過程需要分成多個序列。
概念子系統沒有規定將引導探針算法用于故障診斷。探針可以連接到備用DIO通道，但探針算法的開發將由最終用戶負責。
GX5055數字子系統與支持存儲序列模式最為一致。GX5055的矢量深度為2K vectors，遠大于3050B。但是，GX5055的序列深度限制為512K。 3050B支持40M的序列。 GX5055的操作碼非常類似于3050B，這有助于重新托管存儲序列。對于大序列，需要加載多個序列并將其作為多個突發執行。
采用GX5055數字子系統進行3050B更換 - 注意事項
GX5055子系統（圖5）可以提供3050B支持的基本數字測試功能。
圖5：GX7005機箱和數字子系統
作為此替換解決方案的一部分，需要考慮的其他問題包括：
夾具：需要構建適配器以使3050B的連接器適配器/測試接口適應GX5055的I / O連接器。或者，需要構建新的固定裝置/布線。Marvin為GX5055數字子系統提供了由Virginia Panel和Mac Panel提供的多種不同質量終端接口。
軟件：需要創建一種遷移3050B測試向量和相關測試程序的方法。GX5055數字子系統的控制是通過現代基于文本的語言（如C或 Marvin ATEasy®）完成的，通過基于PC的控制器顯示/控制測試程序。與3050B測試程序關聯的任何操作員界面都需要遷移到基于PC的環境。
3050B特定波形：3050B支持各種復雜波形以及時鐘，格雷碼時鐘和八相時鐘。如果要遷移的測試程序需要這些波形，則需要用戶創建它們作為測試程序遷移過程的一部分。這些波形與自動序列相關聯，自動序列由3050B的自動序列處理器生成。
通過/失敗測試模式：如前文所述，3050B支持兩種模式 - 比較模式和簽名模式。如果為程序遷移工作實現簽名模式，則用戶將需要知道已知的良好CRC簽名以及完全了解如何計算CRC簽名。
引導探頭：數字子系統未隨附任何引導探頭軟件。最終用戶需要開發任何診斷程序。
