測試作為集成電路行業(yè)的關(guān)鍵技術(shù)之一，是行業(yè)相關(guān)從業(yè)人員必須要掌握的重點(diǎn)內(nèi)容，隨著芯片設(shè)計(jì)和制造技術(shù)向高集成化、小型化發(fā)展，深亞微米、人工智能等技術(shù)的日趨成熟給相應(yīng)測試技術(shù)帶來現(xiàn)實(shí)挑戰(zhàn)，既要提高測試效率又要降低測試成本是測試工程師始終需要考慮的問題。本次培訓(xùn)安排2天時(shí)間，讓參訓(xùn)人員掌握集成電路測試的原理和可測試性設(shè)計(jì)的概念，學(xué)習(xí)測試過程分析和測試良率提升方法在實(shí)際測試過程中的應(yīng)用是本次培訓(xùn)主要目的。
基本信息
培訓(xùn)課時(shí)：2天（第一天 集成電路制造測試流程，測試和DFT的概念，測試向量，ATPG、第二天 測試良率和測試系統(tǒng)的分析，內(nèi)容涵蓋D0良率模型，CP/CPK,R&R等）；
培訓(xùn)要求：集成電路行業(yè)從業(yè)人員；
培訓(xùn)對(duì)象：集成電路行業(yè)測試工程師，產(chǎn)品工程師，質(zhì)量工程師，設(shè)計(jì)工程師和工藝開發(fā)工程師等；
培訓(xùn)費(fèi)用：培訓(xùn)定價(jià)3600元，本次為第一次對(duì)外開班，報(bào)名即享5折優(yōu)惠（1800元），限額6人。
培訓(xùn)內(nèi)容
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類別 |
主題 |
目標(biāo) |
內(nèi)容 |
用時(shí)（分） |
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集成電路測試基礎(chǔ) |
集成電路設(shè)計(jì)制造流程 |
了解集成電路設(shè)計(jì)和制造流程 |
集成電路設(shè)計(jì)流程 集成電路制造流程 測試在IC制造中的作用和地位 |
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測試和可測試性設(shè)計(jì) |
了解測試的必要性 |
測試的概念 測試向量（激勵(lì)，響應(yīng)，時(shí)序） 故障模型 測試的分類 |
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理解可測試性設(shè)計(jì)相關(guān)概念 |
ATPG 并發(fā)測試（NVM）） |
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制造過程中的測試 |
了解ATE測試 |
測試負(fù)載板 測試程序 IO timing設(shè)定 測試儀精度和準(zhǔn)確度 |
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了解老化測試 |
老化測試的概念及分類 |
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了解QA抽樣測試 |
抽樣測試的概念 制造過程中抽樣SOTF |
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測試系統(tǒng)分析和測試 良率 |
測試良率 |
掌握良率模型 |
泊松模型 Bose-Einstein模型 二項(xiàng)式模型 實(shí)例分析 |
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測試過程能力評(píng)價(jià) |
掌握CP/CPK |
CP/CPK的概念、計(jì)算及評(píng)價(jià) 實(shí)例分析 |
60 |
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測試規(guī)范設(shè)置 |
合理設(shè)定測試規(guī)范 |
sigma的概念 PVT的概念 實(shí)例分享 |
60 |
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測量系統(tǒng)分析 |
評(píng)價(jià)測試系統(tǒng)可靠性 |
測試重復(fù)性和重現(xiàn)性的概念 多測良系統(tǒng)的R&R 實(shí)例分析 |
60 |
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有人說，奈良的鹿很可愛；有人說三月底的花很好看。但都不如虹科的這場培訓(xùn)令你如此心動(dòng)，我知道，心之所鐘，雖難必至，虹科等你！
