在現代電子設計與測試中,工程師既需應對高速數字信號的完整性挑戰,也要精準把握射頻器件的動態特性。
為此,優利德持續深化技術創新,推出一系列高性能測試方案,全面覆蓋射頻微波與高速時域測量場景,深度聚焦產品核心性能升級,精準對接移動通信、半導體、新能源、科研教育等關鍵領域的研發測試需求,確保在復雜環境下實現信號的精準捕獲與深度分析,讓每一次測量更高效、可控。
全新平臺 網絡新境

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核心性能指標
集高性能、大動態范圍與低噪聲等優勢于一身,頻率范圍覆蓋100kHz~9GHz,涵蓋整個移動通信頻段。其典型動態范圍大于138dB,跡線噪聲低至0.005dBrms,中頻帶寬可在10Hz~5MHz之間靈活設置,測量速度快至40μsec/點,輸出功率調節范圍為-55dBm~+13dBm。支持全雙端口S參數測量,具備高精度、高穩定性及快速測量能力,能夠滿足嚴苛的射頻測試需求。
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應用領域
廣泛應用于5G/6G與毫米波技術、雷達通信、半導體、廣播電視及科研教育等領域,適用于各類射頻器件與組件的研發和生產測試。
再創“芯”高
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核心性能指標
搭載優利德自研第二代AFE芯片組,實現每通道13GHz帶寬、40GSa/s高采樣率與4Gpts存儲深度,奠定高端信號分析的硬件基礎。其波形捕獲率高達1,000,000wfms/s,能夠有效捕獲偶發異常;ERes模式下分辨率最高可提升至12bit,精細呈現信號細節。該系列配備4個模擬通道和1個外觸發通道,存儲深度標配1Gpts/通道,并提供2Gpts/通道與4Gpts/通道的高配選型,滿足不同場景下的深存儲需求。
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應用領域
廣泛應用于高速數字信號完整性驗證、半導體芯片性能分析、5G 通信測試,以及各類工業電子與科學研究領域。
全域躍進

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核心性能指標
標配每通道20GSa/s采樣率和12bit垂直分辨率,提供4個模擬通道與16個數字通道。ERes模式下分辨率最高可提升至16bit,存儲深度標配1Gpts/通道,并支持2Gpts/通道與4Gpts/通道的選配升級。產品底噪50mV/div,滿帶寬底噪低至 800μV(典型值),為高精度信號測量提供可靠保障。
02
應用領域
廣泛應用于高速數字信號完整性驗證、半導體芯片性能分析、5G通信測試、新能源系統監測以及電源設計與測試。
集一而解

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核心性能指標
具備8通道、3GHz帶寬、10GSa/s采樣率、1Gpts存儲深度及12位垂直分辨率,并支持通過ERes模式將分辨率提升至16位,實現更精細的信號觀測。其在保持高性能硬件基礎的同時,集成了電源完整性分析、三相電分析、抖動與眼圖分析、協議分析及一致性測試等豐富功能,滿足多樣化的測試需求。
02
應用領域
廣泛應用于高速數字信號完整性驗證、新能源系統監測、電源設計與測試,以及各類工業電子與科學研究領域。