傳統差分探頭的共模抑制比隨頻率上升快速下降，無法準確測量高共模干下的小電壓信號如半橋電路的上管驅動電壓。致遠儀器推出全新的ZOP5035光隔離探頭，可保證全工作帶寬內的高共模抑制比，更好的解決這一測量難題。
相比與傳統差分探頭，光隔離探頭全帶寬下都擁有更高的共模抑制比，可以實現高共模下的電壓信號測試，同時搭配不同的衰減器，可以實現量程3V-2500V的寬壓測試，ZOP5035詳細參數如下圖所示。
目前以SiC、GaN為代表的功率器件被廣泛應用，功率半導體器件具有幾十種參數來表征其特性，包括了器件的最值、靜態參數、動態特性等。功率半導體測試中以動態特性測試最為復雜，針對器件動態特性測試，典型的就是雙脈沖測試。如下圖是一個典型的雙脈沖測試模型，這也是ZOP5035典型的應用場景。
功率器件動態特性測量中（雙脈沖測試），最難的部分就是對半橋電路的上管驅動電壓VGS的測量，因安全問題無法使用無源探頭進行測量的，且存在較強的共模電源，此時通常會選用差分探頭進行測試，我們選用差分探頭和光隔離探頭進行測試對比，情況如下所示。
雙脈沖測試過程
開通過程
關閉過程
通過對比我們可以發現在使用了光隔離探頭后測到的波形明顯更加平穩，震蕩明顯減輕。可見使用光隔離探頭可以得到更好的波形和更準確的結果。
示波器是電子工程師的眼睛，探頭是示波器捕獲信號的重要紐帶，選擇合適的探頭能夠讓我們對信號的分析更加準確和有效，致遠儀器會不斷推陳出新，為用戶帶來更多更好的產品。
