美國國家儀器(National Instruments，簡稱NI)近日發(fā)布了硬件加速的5G毫米波OTA驗(yàn)證測試參考架構(gòu)，可對(duì)5G 毫米波波束成形AiP器件進(jìn)行全面的特性分析和驗(yàn)證。

與傳統(tǒng)的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)軟件控制測試系統(tǒng)相比，NI的毫米波OTA驗(yàn)證測試參考架構(gòu)可在24 GHz到44 GHz的5G毫米波頻段內(nèi)快速掃描OTA空間，幫助用戶顯著縮短AiP器件的OTA射頻驗(yàn)證測試時(shí)間。這一全新的參考架構(gòu)使得正在研究最新5G AiP器件的特性分析和驗(yàn)證工程師能夠利用更寬、更復(fù)雜的5G新空口信號(hào)研究其器件的波束成形性能，同時(shí)縮短開發(fā)周期。NI的快速OTA測試方法可幫助工程師使用更密集的空間網(wǎng)格并獲得更精細(xì)的3D空間分辨率，同時(shí)維持較短的測試時(shí)間。此外，借助NI的毫米波OTA驗(yàn)證測試軟件，驗(yàn)證工程師可以在生成、可視化、存儲(chǔ)或發(fā)布詳細(xì)的參數(shù)結(jié)果時(shí)快速配置這些空間掃描，以分析其器件的天線方向圖特性。

“5G毫米波半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅速，測試系統(tǒng)需要為新的5G波束形成設(shè)備做好準(zhǔn)備，” Anokiwave首席戰(zhàn)略官Alastair Upton說道， “工程師將需要快速、準(zhǔn)確且價(jià)格合理的工具來測量和確保器件的波束形成性能，以便下一代毫米波半導(dǎo)體能夠在全球范圍內(nèi)充分發(fā)揮其潛力。”

NI的毫米波OTA驗(yàn)證測試參考架構(gòu)由以下部分構(gòu)成：

? NI毫米波VST，用于生成和測量寬帶RF信號(hào)

? PXI儀器，用于實(shí)現(xiàn)可重復(fù)和精確的運(yùn)動(dòng)控制

? 隔離微波暗室，可在安靜的環(huán)境中進(jìn)行真正的遠(yuǎn)場輻射測試

? 毫米波OTA驗(yàn)證測試軟件，實(shí)現(xiàn)交互使用和自動(dòng)化

NI一直以來致力于不斷擴(kuò)大5G毫米波器件的測試范圍，同時(shí)幫助用戶降低測試成本和縮短上市時(shí)間，此次發(fā)布的毫米波OTA驗(yàn)證測試參考架構(gòu)正是這一努力的最新成果。這一解決方案完善了NI模塊化儀器產(chǎn)品系列和測量軟件，可對(duì)最新的Sub-6 GHz至毫米波的最新5G RFIC器件進(jìn)行特性分析和驗(yàn)證。