光電傳感器表征專家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化的最新型單光子探測(cè)器 (SPD, Single Photon Detector) 特性測(cè)試分析設(shè)備SPD2200。光焱科技整合了所有先進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能，助力客戶加速直接飛行時(shí)間（dToF）單光子雪崩二極管（SPAD）產(chǎn)品的開發(fā)周期，提升競(jìng)爭(zhēng)力。
測(cè)試分析
SPD2200具備的全光譜性能測(cè)試包含：
- 全光譜光譜響應(yīng) (SR, Spectral Responsivity)
- 全光譜量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)
- 全光譜光子探測(cè)率 (PDP, Photon Detection Probability)
- 暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)
- 崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
在不同電壓下，SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜
SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖
SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓
SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：
- Jitter
- Afterpulsing probability
- Diffusion tail
- SNR
SPAD的Jitter測(cè)量
適用范圍
SPD2200適用各種傳感器測(cè)試分析，包含：
- SPAD
- SPD (Single Photon Detector)
- SiPM (Si PhotoMultiplier)
- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)
- dToF Light Sensor
- LiDAR Sensor
- Wafer Level SPAD
