引言

半導(dǎo)體數(shù)字測(cè)試，特別是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件轉(zhuǎn)換而成的數(shù)字測(cè)試程序，往往需要擴(kuò)展到多個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)。本文討論了使用GtDio6x產(chǎn)品線和ATEasy®進(jìn)行多位點(diǎn)測(cè)試的系統(tǒng)硬件和軟件需求，以提供一個(gè)成本有效的解決方案。

數(shù)字設(shè)備設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)

在設(shè)計(jì)多位點(diǎn)測(cè)試程序時(shí)，設(shè)計(jì)者可能無法完全明確成本和性能之間的取舍。在評(píng)估GX5296或GX5964系列動(dòng)態(tài)數(shù)字儀器的性能和能力后，可以合理地推斷單個(gè)GtDio6x板卡的大量通道應(yīng)該能夠支持多位點(diǎn)數(shù)字測(cè)試解決方案。雖然這種解決方案是可能的，但它并不能構(gòu)建一個(gè)性能能滿足每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)都使用數(shù)字資源或板卡的測(cè)試系統(tǒng)。

基于逐個(gè)位點(diǎn)的多數(shù)字域的解決方案

Marvin Test Solutions公司建議設(shè)計(jì)基于每個(gè)位點(diǎn)的多數(shù)字域的多位點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，以便每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)使用自己的數(shù)字資源，如圖1所示。該解決方案提供了最快的多位點(diǎn)測(cè)試性能，因?yàn)槊總€(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)可以獨(dú)立運(yùn)行。

圖1 -多域解決方案框圖

使用這種配置方法，每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)都可以使用所有的數(shù)字資源。通過讀取實(shí)時(shí)比較(RTC)錯(cuò)誤狀態(tài)寄存器，可以立即識(shí)別每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)的測(cè)試狀態(tài)。此外，系統(tǒng)可以設(shè)計(jì)成每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)使用相同的數(shù)字測(cè)試文件和測(cè)試程序。通過增加額外的數(shù)字領(lǐng)域，DUT測(cè)試位點(diǎn)可以很容易地?cái)U(kuò)展。使用ATEasy®也可以輕松創(chuàng)建一個(gè)多線程測(cè)試程序來執(zhí)行此測(cè)試。

表1 -多域解決方案的相對(duì)優(yōu)點(diǎn)

基于單一數(shù)字域的解決方案

如圖2所示，使用單個(gè)數(shù)字域設(shè)計(jì)的多位點(diǎn)數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)有幾個(gè)缺點(diǎn)。首先，每個(gè)測(cè)試位點(diǎn)不能再使用相同的數(shù)字文件。單一數(shù)字域的多位點(diǎn)數(shù)字測(cè)試解決方案需要一個(gè)獨(dú)立的應(yīng)用程序從原始數(shù)字文件創(chuàng)建額外的測(cè)試位點(diǎn)。這個(gè)額外的應(yīng)用程序需要將原始通道和矢量數(shù)據(jù)復(fù)制到所有新的DUT測(cè)試位點(diǎn)。

圖2 -單一域解決方案框圖

盡管僅讀取和評(píng)估記錄存儲(chǔ)器就可以確定所有DUT位點(diǎn)的狀態(tài)，但由于大多數(shù)數(shù)字測(cè)試的大小都非常大，這種方法并不實(shí)用，因?yàn)樗鼤?huì)消耗太多的測(cè)試時(shí)間。

RTC錯(cuò)誤地址內(nèi)存包含高達(dá)1K的失敗向量地址，可以讀取每個(gè)地址的記錄內(nèi)存來確定失敗的DUT位點(diǎn)。由于每個(gè)測(cè)試入口都表示一個(gè)失敗的位置，所以不會(huì)浪費(fèi)時(shí)間從記錄內(nèi)存中讀取大量部分來確定測(cè)試失敗。除非失效次數(shù)小于1k或以上所述所有DUT均已失效，否則無法確定所有DUT的狀態(tài)。在這種情況下，測(cè)試程序必須禁用失敗的測(cè)試位點(diǎn)，并重新運(yùn)行數(shù)字測(cè)試，直到所有DUT測(cè)試位點(diǎn)的狀態(tài)已知。GtDio6x系列數(shù)字儀器提供了一種在檢測(cè)到故障時(shí)中止測(cè)試序列的方法;當(dāng)出現(xiàn)故障時(shí)，該特性可以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。

表2 -單域解決方案的相對(duì)優(yōu)點(diǎn)

方案比較

以下是兩種方案的比較：

總結(jié)

除非半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的空間(PXI插槽)十分寶貴，否則多位點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)在設(shè)計(jì)時(shí)還是應(yīng)該為每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)提供一個(gè)數(shù)字域。雖然硬件的前期成本會(huì)很高，但這會(huì)在后期測(cè)試過程中帶來巨大的回報(bào)。這保證了盡可能快的測(cè)試時(shí)間并簡(jiǎn)化了測(cè)試編程，在多位點(diǎn)數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中，這些功能是至關(guān)重要的。