羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S公司”）在光電元器件領域長期探索及積累，推出的頻域參數測試方案和時域參數測試方案，能夠幫助用戶快速可靠地測量這些光電元器件的頻域和時域參數，助力用戶實現高效率高質量的研發和生產

頻域參數測試應用場景

E/E器件測量：

僅使用矢量網絡分析儀即可實現E/E器件測量。E/E器件的測量重點主要是傳輸帶寬、插入損耗或增益、阻抗匹配和群延時。

O/O器件測量：

在測試光電器件之前，通常在射頻同軸電纜或探頭的末端對矢量網絡進行校準。通常對傳輸系統的帶寬和群時延進行測試。可測試無源光器件的插入損耗、分散效應引起的帶寬限制，以及光群時延。除了基本的矢量網絡電口校準外，O/O器件測試還需要一步式光纖校準。經校準的E/O和O/E器件與光纖連接。經歸一化校準，可以消除整個系統的誤差。

E/O器件測量:

EOM、DML或TOSA是最為常見的E/O器件。雙驅動光調制器可用4端口矢量網絡分析儀（如R&S®ZNA）進行表征。

頻域參數測試方案

GOCA系列通用光電元器件分析儀由專用光電底座和R&SZNA、ZNB等系列矢量網絡分析儀協同構成，不僅可實現電器件參數分析，還可實現用戶對于直調激光器、電光調制器、光電探測器、光微環、光柵等光電芯片、器件和模塊的測量，支持S參數、截止頻率、差分/共模參數、延時參數、交調/互調參數、噪聲系數等關鍵數據的獲取，適用于光電元器件研發、生產和應用的整個周期鏈。

測試系統方案構成：

ZNA67微波矢量網絡分析儀

GOCA-67光電底座

方案優勢：

覆蓋電-光、光-電、光-光、三種光學器件性能參數測試

測量頻率最高可達110GHz

測量波長覆蓋1550nm / 1310nm / 850nm

示波器光器件時域測試解決方案

R&S聯合Newport科技推出光器件測試解決方案，可幫助用戶快速的測試光電元器件的時域參數。Newport光電探測器和RTO6、RTP等系列示波器協同工作，集成光電元器件時域參數的測量功能。實現了激光元器件的參數分析，還支持光電信號分析，可用于光電元器件的研發、生產和應用。

RTO6示波器系列提供出色信號，助您了解應用情況。這款全集成式測試解決方案兼具15.6"大觸摸屏、全新圖形用戶界面、一流的波形捕獲率、卓越的信號保真度、數字觸發和快速響應的深存儲，可用于頻率、協議和邏輯分析。RTO6示波器系列具有豐富的測量工具和新型用戶界面，能夠快速解決各種簡單或復雜的電路問題。

產品亮點：

最大 6GHz帶寬

每秒一百萬波形

9.4ENOB,確保非凡的信號完整性

最大2Gpoints 存儲深度

獨樹一幟的頻率區域觸發

RTP高性能示波器將優異的信號完整性與波形捕獲率相結合。它結構緊湊，內部集成定制化的前端ASIC和實時處理硬件，能夠以全新的速度執行準確測量。

產品亮點：

波形捕獲率高達 750,000波形/秒，可快速查找故障

高精度數字觸發，無帶寬限制

實時去嵌，用于觸發和快速波形捕獲

緊湊設計，靜音運行，適用于任何實驗室環境

+/-0.25dB平坦頻率響應，實現準確測量