近日，西安光機所光電子學研究室成功研制寬光譜全天時光學成像測試系統，該系統可同時在可見光與紅外波段對光電器件進行測試，實現了在寬光譜全天時測試標定領域的技術突破。
由西安工業大學、西安交通大學、北方夜視技術股份有限公司、中國科學院國家授時中心等單位的專家組成測試評審驗收組，通過對中國科學院西安光學精密機械研究所光電子學研究室研制的寬光譜全天時光學成像測試系統進行測試、答疑、評審，認為該系統可同時在可見光與紅外波段對光電器件進行測試，對該系統寬光譜、大動態范圍等測試標定能力做出肯定，經現場演示驗證后通過專家及用戶的測試評審驗收。
測試評審專家進行現場測試
當前，由于單一光學測試標定設備只能夠實現特定波段的測試標定任務。而針對不同的測試要求與測試目標，則需要多套標定設備對光電器件反復測試標定。
研發工作匯報、答辯、答疑
中科院西安光機所、西安工業大聯合研制的寬光譜全天時光學成像測試系統的光譜響應范圍寬、光照度跨越范圍大，使得利用單套硬件系統同時實現多指標、寬光譜、全天時測試標定成為現實。
據研發團隊相關專家介紹，該系統的光譜響應范圍覆蓋可見光至遠紅外波段（0.4 ~ 14微米），光照度跨越8個數量級（10-4 ~ 104勒克斯），像平面尺寸大于26 mm × 20 mm，可見光光學分辨率優于5 μm；在攻克核心技術的同時，有效填補了大動態范圍內同時實現可見、紅外成像系統標定的技術空白，可廣泛適用于可見、紅外波段大動態范圍成像器件的測試標定。
