光源作為一種基礎的設備，在光通信、激光雷達、激光切割、激光醫療等各行各業廣泛使用。在光源的研發、生產和測試過程中，面臨測試速度慢、邊模小信號尋找難、測試效率低等突出的問題。為解決上述問題，思儀科技的Ceyear 6362D光譜分析儀開發了針對性的測試功能。
圖1 Ceyear 6362D光譜分析儀
1.解決測試速度的問題
對于光源生產過程，往往需要更快的測試速度，來提高測試，生產效率，通常通過改變采樣點數，靈敏度，掃描速度等操作，當Ceyear 6362D在“X2”速度模式下，單次掃描時間最快可達200ms，保證測試精度的同時，可以滿足光源生產線的高速測試需求，節省工時成本。
圖2 光譜儀參數設置界面
2.解決精準測試問題
在研發過程中，需要更精準的測試，Ceyear 6362D在“HIGH3”靈敏度下，動態范圍最高可達78dB，可測得-90dBm的光譜，能夠探測到功率更低的光信號，從而分辨出被淹沒的邊摸等小信號。
圖3 -90dBm光譜測試
3.提升測試效率的途徑
Ceyear 6362D提供多種自動分析功能，例如DFB光源分析功能（如下圖中所示）、LED光源分析功能、FP光源分析功能等，一次自動分析就可以得到多項激光器指標。同時，相關參數和測試結果也支持通過LAN、GPIB遠程控制，可以大大提高測試效率。
圖4 DFB一鍵分析
作為新一代、高性能近紅外光譜分析儀，Ceyear 6362D在大幅度提升測試效率的同時，測試分辨率、動態范圍得到大幅度提升，更加滿足各類光源的測試分析需求，為用戶提供更好的測試體驗。
