Ceyear 6433系列光波元件分析儀產品集成了電電測試、電光測試、光電測試、光光測試4種測試模式，具有對數幅度、線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，配置USB、LAN、GPIB、VGA等多種標準接口，能夠精確測量光電網絡的幅頻特性、相頻特性和群時延特性。

圖1 6433系列光波元件分析儀

產品包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4個產品型號，分為雙端口和四端口兩種機型，主要應用于高速寬頻電光器件（電光調制器、直調激光器、TOSA）、光電器件（PD、PIN、APD、ROSA）、光光器件（光衰減器、EDFA）的頻響參數測試，是光芯片、光器件、光收發組件、光電儀器、光通信系統等科研、生產及計量過程中高效的測試設備。

（1）一體化多功能測試向導界面

6433系列光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，滿足了目前絕大多數通用器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。集成式的參數設置方便用戶快速完成光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入參數的設置及一鍵測試。

圖2一體化多功能測試界面

（2）一鍵式電光/光電/光光器件快速掃頻測試

6433系列光波元件分析儀采用微波模塊、光波模塊一體化集成設計方案，構建高精度光電網絡誤差模型，利用核心校準算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數和S21參數測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數測試，可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。

圖3光電器件S21參數及S22參數曲線

圖4電光器件相位曲線

（3）平衡光電/電光器件測試

6433系列光波元件分析儀可通過選配四端口機型，實現平衡光發射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

圖5平衡ROSA器件連接示意圖及混合模S參數示意圖

圖6平衡ROSA測試示意圖

（4）校準類型及校準件靈活可選

6433系列光波元件分析儀提供向導校準、非向導校準、電校準等多種校準類型，可根據實際測試需要選擇同軸機械校準件或電子校準件等多種校準件，方便不同接口類型器件的測試。

圖7機械校準件及電子校準件

（5）多窗口快速顯示及分析

6433系列光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口最多可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示；高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀使用體驗。

圖8多窗口快速顯示及分析

（6）跡線噪聲小，動態范圍大

6433系列光波元件分析儀采用混頻接收的設計理念，使用高精度和響應平坦的核心器件，結合通過設定不同中頻帶寬和平均，可獲得更大的動態測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結果的更多細節，滿足用戶對大動態范圍、高精度的測試需求。

圖9跡線噪聲和動態范圍示意圖

（7）夾具數據自動移除

6433系列光波元件分析儀通過光路去嵌入和射頻去嵌入可將接入測試鏈路中的夾具進行自動移除。

當測試鏈路中引入電夾具或光夾具時，用戶可選中射頻去嵌入、光路去嵌入的使能狀態，導入夾具參數文件，進行自動夾具數據移除，提升測量精度。尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。

圖10 在片測試示意圖

（8）多功能工具箱

6433系列光波元件分析儀內置大動態范圍光功率計，可實時監測輸入光功率數值，通過高級設置，可將光發射模塊設定為保偏激光源輸出模式（CW）模式，消光比大于20dB，為MZ型LiNiO3調制器提供所需的保偏光源。測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統核心器件測量需求。

圖11 多功能工具箱