LCR測(cè)試儀（LCR）與阻抗分析儀（Impedence Meters）
阻抗(electrical impedance)是電路中電阻、電感、電容對(duì)交流電的阻礙作用的統(tǒng)稱(chēng)。阻抗衡量流動(dòng)于電路的交流電所遇到的阻礙。阻抗將電阻的概念加以延伸至交流電路領(lǐng)域。
LCR 測(cè)試儀和阻抗分析儀被設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子元件在某些頻率或?qū)掝l率范圍內(nèi)的阻抗。如果阻抗不符合規(guī)格，則這些電子元件將不能正常工作。
測(cè)量原理
日置HIOKI的LCR 測(cè)試儀和阻抗分析儀使用自動(dòng)平衡電橋法（ABB） 和 射頻電流-電壓法（RF I-V） 兩種方法測(cè)量阻抗。
使用自動(dòng)平衡電橋法的LCR測(cè)試儀或阻抗分析儀可以在較寬的頻率范圍內(nèi)（1MHz~100MHz）測(cè)量較大的阻抗，適用于低頻、通用測(cè)試，但尚不足以進(jìn)行高頻測(cè)試。
而使用射頻電流-電壓法的儀器通常提供較高的精度(約1%左右)，并可以在高頻下測(cè)試較大的阻抗。
LCR和阻抗測(cè)試儀的差別
LCR 測(cè)試儀和阻抗分析儀可以使用以上兩種方法測(cè)量阻抗， 這兩種產(chǎn)品之間的差別更多的是功能和顯示：
LCR 測(cè)試儀 通常采用單一頻率進(jìn)行測(cè)量并提供數(shù)值。
阻抗分析儀 阻抗分析儀可以不斷地切換頻率進(jìn)行測(cè)量，并提供頻率特性圖，也可以執(zhí)行等效電路分析。
隨著信號(hào)電感器和功率電感器在智能手機(jī)、平板電腦和汽車(chē)方面的使用持續(xù)增長(zhǎng)，最近日置HIOKI更加重視開(kāi)發(fā)阻抗分析儀。為了滿足制造商對(duì)高速、高穩(wěn)定性測(cè)量能力的需求。日置HIOKI設(shè)計(jì)出尺寸緊湊，寬頻率范圍，較高的性?xún)r(jià)比的產(chǎn)品，使大家可以輕松地利用我們的產(chǎn)品擴(kuò)大他們現(xiàn)有的生產(chǎn)線。
推薦產(chǎn)品
LCR測(cè)試儀IM3536
DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率
● 測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
阻抗分析儀IM3570
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
● 可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
阻抗分析儀IM7587
可信賴(lài)的機(jī)型3GHz
● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz
● 測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）
● 測(cè)量值偏差：0.07%（用3GHz測(cè)量線圈1nH時(shí)）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
