很多工程師在使用網絡分析儀的時候對于校準都很頭痛。怎么做？做什么？這些都是工程師要考慮的問題，下面安泰網絡分析儀維修中心工程師為大家分享網絡分析儀校準的注意事項。

是不是每次測量一個新的項目前都必須做校準?

這個是不一定需要的，盡量將每次校準的state存入VNA，名字最好為校準狀態，例如頻率范圍，輸入激勵功率等。如果有新的測試項目，但是它的測試條件和已有狀態相似，且loadstate后，檢查校準狀態良好，就可用使用以前的校準狀態，而不需要重新校準。將校準state保存并調用的好處在于：CalibrationKit也是有使用壽命的，多次的校準，會使得校準件多次和校準電纜接觸，可能污染校準件，讓校準件特性發生改變，影響下一次校準。

盡量養成如下習慣：將網絡分析儀的port不用的時候加上防塵套；對測試電纜進行標號，使得VNA每個port盡可能固定連接某個電纜;對測試電纜不用時，也需要加上防塵套；盡量不用很臟的測試電纜等。

VNA的校準是精確測量前必要的準備

以單端口DUT測量為例，測試模型參考oneporterrormodel。由于VNA的輸出和DUT的待測輸入一般都存在中間過渡件/連接件，使得理想網絡分析儀的測試平面和DUT的待測平面間出現了一個誤差網絡。對于單端口誤差模型，有三個誤差項。為了求解三個誤差項，由線性矩陣理論，需要建立三個不相關的方程來求解。校準的原理就是建立這三個方程。

通過在測試面加入三個已知特性的校準件，例如開路件，反射系數理論上為1，短路件，反射系數理論上為-1，負載件反射系數理論上為0。通過VNA測量這三個校準件，得到實際測量結果。也就得到包含三個誤差模型的線性方程，通過求解就能得到三個誤差項。在后續的測量中，在直接獲得的測試結果中，先通過數學運算，消除三個誤差項帶來的影響，顯示給用戶的就是校準后DUT的特性。

當然兩端口誤差模型更加復雜，分為正向和反向，正向具有6個誤差項，反向也有6個誤差項，總共有12個誤差項需要求解，求解方法可用參考"RFMeasurementofDieandPackages"。

一般網絡分析儀提供的二端口矢量校準方法為SOLT，通過單端口的分析，其實校準件的本質是建立誤差模型方程，選擇不同已知反射系數的校準件，就得到了很多不同的校準方法，例如LRM，LRRM，TRL等等。

校準的本質也是去嵌入(De-embedding)的過程，去嵌入的本質得到誤差網絡的S參數，通過轉換到T參數，運用級聯運算進行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線網絡的S參數，應用也比校準廣泛。

實際校準的方法

盡管一般VNA的UserGuider上都有儀器校準的方法，但是還有很多細節需要注意的。

1、設定測試參數

選擇測試頻率范圍：一般的頻率范圍要稍微大于測試指標規定的范圍，選擇VNAPort激勵功率，對于無源器件，可以選擇稍微大的激勵功率，例如0dBm，但是對于測試Amplifier等小信號器件，一般激勵信號要小于器件的1dB壓縮點，對于PowerAmplifier等大功率器件，需要減小VNA的輸入信號功率，同時要在PA的輸出和VNA的輸入間加入衰減器。但是過分減小VNA的輸入信號功率，可能會使得S11和S22測量誤差增大。如果對于多端口VNA，還需要選擇測試port。

2、選擇校準件、校準方法，通過儀器校準的Guide完成校準

每個公司都有不同的規格的校準件，例如N型的，SMA型的，這個在校準之前一定要選擇好，這個是因為廠家提供的校準件，開路短路負載等也不是理想的反射系數分別為1，-1和0。同公司的VNA中會定義校準件，將校準件的特性預先存入VNA，以便校準時求解誤差方程。因此，如果校準件選擇不當，校準的意義也就沒有了。

在校準過程中，顯示format對于校準是沒有影響的，可用選擇顯示S11或者S21，顯示可用為VSWR或者SmithChart，這個不影響校準。已SOLT為例，首先進行單端口校準，分別將開路短路負載加至VNA的port1和port2，按照儀器指示進行完成校準，再連接Thru件，完成直通校準。

3、校準結果檢查

這一步不是必須的，但個人覺得作為一個優秀的射頻工程師，這一步是至關重要的。

開路校準特性的檢查

校準完成后，將開路件取下，顯示S11和S22的SmithChart，良好的校準使得測試顯示曲線在整個測量頻率范圍內都在SmithChart的開路點。負載校準特性的檢查：校準完成后，將測試端口連接負載件，測試S11和S22的SmithChart，良好的校準使得測試曲線在整個測量頻率范圍內都在SmithChart的中心點。

直通檢查

校準完成后，將兩端口連接Thru件，測試S12或者S21的dB曲線，良好的校準使得測試曲線在整個頻率范圍內平坦，且都在0dB。