近日，電科思儀突破高精密光學設計及裝調技術瓶頸，成功研制出高性能光譜分析儀。
該儀器為應對紫外、可見、近紅外光譜波段的復雜測試場景而設計，波段覆蓋350納米～1200納米，最高光譜分辨率達到10皮米，動態范圍優于65分貝，單次掃描時間最快可突破200毫秒，能夠快速精細還原光譜特征，滿足產線、實驗室光譜測試需求，可廣泛應用于光有源器件、光無源器件、應用光子設備、可見光通信、激光雷達、生物醫療、工業應用、家用電子設備、測量傳感、電信等領域。
電科思儀高性能光譜分析儀取得重要突破
來源：中國電科
發布時間：2025-02-11
編輯：清風
瀏覽量：15684
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