Santec 最新推出的的基于光頻域反射(OFDR)技術(shù)的光器件鏈路分析儀SPA-100，采樣分辨率高達(dá)5 μm，得益于Santec高精度、160 nm寬波長(zhǎng)調(diào)諧范圍的激光器。5 μm高采樣分辨率能力，可以幫助研發(fā)人員分析各種精密光子系統(tǒng)的空間分布和故障，縮短研發(fā)時(shí)間。

光頻域反射技術(shù)(OFDR)原理

光頻域反射技術(shù)（OFDR）是一種基于光纖中瑞利散射的背向反射技術(shù)，光源發(fā)出的線性掃頻光經(jīng)耦合器分為兩路，一路進(jìn)入待測(cè)光纖中，在光纖各個(gè)位置上不斷地產(chǎn)生瑞利散射信號(hào)，信號(hào)光是背向的，與另一路參考光耦合到探測(cè)器上進(jìn)行相干混頻。待測(cè)光纖不同位置，光頻率不同，信號(hào)光與參考光的頻差也不同。

通過(guò)頻率測(cè)量可以獲得待測(cè)光纖中各位置的光強(qiáng)。頻率對(duì)應(yīng)于光纖的位置，光強(qiáng)對(duì)應(yīng)于此位置的反射率和回?fù)p。

典型的應(yīng)用場(chǎng)景

01、硅光子器件事件分析

硅光子器件一般是會(huì)包含硅光芯片和其他芯片的混合集成器件，這樣的混合器件中，光鏈路中總會(huì)有一些事件點(diǎn)，可能會(huì)造成光學(xué)性能的的差異。如何精確得知這些故障點(diǎn)以及性能呢？SPA-100可以幫助到你。

02、光學(xué)鏈路分析

在一些較長(zhǎng)的光學(xué)傳感鏈路中，也會(huì)有不同的事件點(diǎn)，如何精確得知具體哪一個(gè)事件出現(xiàn)故障或者性能的劣化，就需要OFDR的分析儀來(lái)進(jìn)行監(jiān)測(cè), 通常這種鏈路中，OTDR的分辨率是不能滿足測(cè)試要求的。

03、芯片耦合過(guò)程中距離監(jiān)測(cè)

光探針在逐漸靠近硅光芯片或者晶圓進(jìn)行耦合的過(guò)程中，可能會(huì)因?yàn)榻佑|而造成芯片或者晶圓的損傷，Santec 的OFDR 在探測(cè)性能的同時(shí)還提供額外的距離探測(cè)的功能，最大限度提高耦合效率并保護(hù)芯片和晶圓。

04、WDL 性能分析

SPA-100 提供2個(gè)測(cè)試端口一個(gè)端口用于OFDR分析，另一個(gè)端口可以同時(shí)掃描得到透射光譜，分析各種波長(zhǎng)相關(guān)性測(cè)試指標(biāo)。160 nm的波長(zhǎng)范圍，高達(dá)70 dB的動(dòng)態(tài)范圍。

得益于Santec 高精度、160 nm寬波長(zhǎng)調(diào)諧范圍的激光器，Santec 的OFDR 分析儀可以達(dá)到業(yè)內(nèi)領(lǐng)先水平，能夠更好的助力高精度硅光子器件的研發(fā)過(guò)程。

同時(shí)，Santec的OFDR 儀表設(shè)計(jì)充分考慮了客戶的投資，光器件鏈路分析儀SPA-100可以配合客戶現(xiàn)有的Santec 可調(diào)諧激光器（TSL-770,TSL-570,TSL-710,TSL-550）完成上述各種場(chǎng)景的測(cè)試。

來(lái)源：santec 圣德科