Santec 最新推出的的基于光頻域反射(OFDR)技術的光器件鏈路分析儀SPA-100，采樣分辨率高達5 μm，得益于Santec高精度、160 nm寬波長調諧范圍的激光器。5 μm高采樣分辨率能力，可以幫助研發人員分析各種精密光子系統的空間分布和故障，縮短研發時間。

光頻域反射技術(OFDR)原理

光頻域反射技術（OFDR）是一種基于光纖中瑞利散射的背向反射技術，光源發出的線性掃頻光經耦合器分為兩路，一路進入待測光纖中，在光纖各個位置上不斷地產生瑞利散射信號，信號光是背向的，與另一路參考光耦合到探測器上進行相干混頻。待測光纖不同位置，光頻率不同，信號光與參考光的頻差也不同。

通過頻率測量可以獲得待測光纖中各位置的光強。頻率對應于光纖的位置，光強對應于此位置的反射率和回損。

典型的應用場景

01、硅光子器件事件分析

硅光子器件一般是會包含硅光芯片和其他芯片的混合集成器件，這樣的混合器件中，光鏈路中總會有一些事件點，可能會造成光學性能的的差異。如何精確得知這些故障點以及性能呢？SPA-100可以幫助到你。

02、光學鏈路分析

在一些較長的光學傳感鏈路中，也會有不同的事件點，如何精確得知具體哪一個事件出現故障或者性能的劣化，就需要OFDR的分析儀來進行監測, 通常這種鏈路中，OTDR的分辨率是不能滿足測試要求的。

03、芯片耦合過程中距離監測

光探針在逐漸靠近硅光芯片或者晶圓進行耦合的過程中，可能會因為接觸而造成芯片或者晶圓的損傷，Santec 的OFDR 在探測性能的同時還提供額外的距離探測的功能，最大限度提高耦合效率并保護芯片和晶圓。

04、WDL 性能分析

SPA-100 提供2個測試端口一個端口用于OFDR分析，另一個端口可以同時掃描得到透射光譜，分析各種波長相關性測試指標。160 nm的波長范圍，高達70 dB的動態范圍。

得益于Santec 高精度、160 nm寬波長調諧范圍的激光器，Santec 的OFDR 分析儀可以達到業內領先水平，能夠更好的助力高精度硅光子器件的研發過程。

同時，Santec的OFDR 儀表設計充分考慮了客戶的投資，光器件鏈路分析儀SPA-100可以配合客戶現有的Santec 可調諧激光器（TSL-770,TSL-570,TSL-710,TSL-550）完成上述各種場景的測試。

來源：santec 圣德科